Material eta produktu berrietan nanopartikulak eta nanoegiturak erabiltzen dituzten enpresen nanomaterial-emisioak neurtzeko tresnak ditu laborategiak.
Hala, modu seguruan erabil ditzakete ekoizpen-prozesuetan, ez baitakigu zer eragin duten nanopartikulek langileen segurtasunean eta osasunean.
Kokapena
Deskribapena
Industria-inguruneetan nanomaterialekiko esposizio okupazionala ebaluatu eta kontrolatzeko laborategian dugun materiala erabiltzen da:
- Zuzeneko neurketarako ekipamenduak:
- CPC 3007 condensation particle counter (TSI), 10 nm eta 1 µm bitarteko partikulak neurtzeko.
- CPC 3775 (TSI), 4 nm eta 1 µm bitarteko partikuletarako.
- Scanning Mobility Particle Sizer Spectrometer SMPS 3936 & DMA 3085 (TSI). 4 nm eta 1 µm bitarteko partikuletarako.
- Electrical Low Pressure Impactor ELPI+ DekatiI. 6 nm eta 10 µm bitarteko partikuletarako.
- Aerotrak (TSI), 10 nm eta 1 µm bitarteko partikulen azalera zehazteko.
- OPC Lighthouse 3016, 0,3 µm eta 10 µm bitarteko partikuletarako.
Tresna horiekin denbora errealean karakteriza daiteke aerosol partikulatua kontzentrazioari, partikula-kopuruari, tamaina-banaketari eta azalerari dagokienez.
- Laginak hartu eta gero analizatzeko ekipamenduak:
- Laginak hartzeko: laginketa pertsonalerako ponpak eta zenbait ebaketa-tamainatarako (frakzio inhalagarria, arnasgarria, inpaktorea) balio duten lagin-hargailu pertsonalak.
- Laginen analisia. TECNALIAko laborategietan (SEM, ICP) dagoen ekipamendu espezifikoarekin egiten da partikulen karakterizazio morfologikoa, haien konposizio kimikoaren karakterizazioa eta masako kontzentrazioaren neurketa.
Nori zuzendua
- Nanomaterialekin lan egiten duten eta/edo nanomaterialak ekoizpen-prozesuetan modu seguruan sartu nahi dituzten enpresak.
